38DL Plus 美國泛美超聲波測厚儀

美國泛美超聲波測厚儀 38DL Plus是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可*地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的美國泛美超聲波測厚儀 38DL Plus可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的極其精確的壁厚測量。

美國泛美超聲波測厚儀 38DL Plus：
美國泛美超聲波測厚儀37DL Plus升級版！*的測厚儀！升級不加價(jià)！專業(yè)泛美產(chǎn)品代理，咨詢.

性能高級、操作簡便、堅(jiān)固耐用、結(jié)果可靠

       38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

美國泛美超聲波測厚儀 38DL主要特性

• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
• 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測量。
• 高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時(shí)間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。

美國泛美超聲波測厚儀 38DL Plus與其他測厚儀有何不同？

38DL PLUS測厚儀的設(shè)計(jì)宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅(jiān)固結(jié)實(shí)的測厚儀器，那么，符合IP67評級標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

美國泛美超聲波測厚儀 38DL Plus抵御惡劣環(huán)境的能力

• 袖珍型，僅重0.814公斤。
• 堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
• 爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在國家防火協(xié)會(huì)規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
• 防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
• 防振動(dòng)測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
• 寬泛的工作溫度范圍。
• 帶有支架的橡膠保護(hù)套。
• 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有的清晰度。

簡便操作的設(shè)計(jì)理念

戶外顯示設(shè)置，A掃描模式	室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式

• 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
• 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
• USB和RS-232通訊端口。
• 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
• 可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
• 默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
• 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
• 密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

?對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量

38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中zui常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
• 10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
• 校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
• 用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
• 高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
• EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償

材料中的溫度差異會(huì)影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動(dòng)輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測量時(shí)的實(shí)際（高）溫度值。38DL PLUS自動(dòng)顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量（可選項(xiàng)）

38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時(shí)顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項(xiàng)應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項(xiàng)正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時(shí)，這條曲線也被同時(shí)保存和調(diào)用。

用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（zui小3個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)；zui大10個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會(huì)創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

自動(dòng)探頭識(shí)別

所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每種不同類型的探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。
• 對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
• 高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層的厚度同時(shí)進(jìn)行測量。
• 測量厚度、聲速或渡越時(shí)間。
• 帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。

高穿透軟件選項(xiàng)

用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

多層軟件選項(xiàng)

這個(gè)軟件選項(xiàng)計(jì)算并同時(shí)顯示多達(dá)4個(gè)不同層的厚度測量值。

這個(gè)功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。

數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

38DL PLUS測厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
• 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
• 32位字符的文件名稱。
• 20位字符的ID# （TML#）編碼。
• 9個(gè)文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動(dòng)型。
• 每個(gè)ID# （TML）編碼可zui多存儲(chǔ)4個(gè)注釋。
• 注釋可存儲(chǔ)到一個(gè)ID#編碼上或存儲(chǔ)到一系列ID#編碼上。
• 內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
• 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件。
• 標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
• 單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
• 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告。
• 機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲(chǔ)卡上寫入信息。
• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡。

GageView™

• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
• 編輯所存數(shù)據(jù)。
• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
• 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
• 將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告。
• 升級操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
• B掃描回顧

標(biāo)準(zhǔn)配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔(dān)保
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、zui小值/zui大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差分模式、B掃描、自動(dòng)調(diào)用應(yīng)用、溫度補(bǔ)償、平均值/zui小值模式